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*X. Chavanne, [[Jean-Pierre Frangi|J.-P. Frangi]], G. de Rosny,<u>  A New Device for in situ Measurement of an Impedance Profile at 1–20 MHz.</u>,  IEEE Trans. on Instr. and Meas. Vol. 59. Digital Object Identifier 10.1109/TIM.2009.2028781.
*X. Chavanne, [[Jean-Pierre Frangi|J.-P. Frangi]], G. de Rosny,<u>  A New Device for in situ Measurement of an Impedance Profile at 1–20 MHz.</u>,  IEEE Trans. on Instr. and Meas. Vol. 59. Digital Object Identifier 10.1109/TIM.2009.2028781.
**'''Nouvel instrument pour la détermination de la permittivité et de la conductivité le long d’un profil vertical dans le premier mètre du sol. Le volume de sol scruté et sur lequel les valeurs sont moyennées a une taille horizontale de l’ordre de 20 cm pour une hauteur de 5 à 20 cm suivant la profondeur. L’appareil permet de faire un suivi au cours du temps avec des pas d’échantillonnages variables allant jusqu’à quelques secondes pour des phénomènes rapides. La configuration de l’électronique a été privilégiée de manière à éviter toute source d’instabilité (suppression de boucles de masse, filtrage HF).  Ces améliorations ont permis d’améliorer la mesure d’admittance avec moins de 3% d’erreur sur la gamme 0.001–0.1 S.'''<span style="color:#800080;"> - mis en ligne fév. 10</span>
**'''Nouvel instrument pour la détermination de la permittivité et de la conductivité le long d’un profil vertical dans le premier mètre du sol. Le volume de sol scruté et sur lequel les valeurs sont moyennées a une taille horizontale de l’ordre de 20 cm pour une hauteur de 5 à 20 cm suivant la profondeur. L’appareil permet de faire un suivi au cours du temps avec des pas d’échantillonnages variables allant jusqu’à quelques secondes pour des phénomènes rapides. La configuration de l’électronique a été privilégiée de manière à éviter toute source d’instabilité (suppression de boucles de masse, filtrage HF).  Ces améliorations ont permis d’améliorer la mesure d’admittance avec moins de 3% d’erreur sur la gamme 0.001–0.1 S.'''<span style="color:#800080;"> - mis en ligne fév. 10</span>
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<span id="J.-P. Frangi, D. Richard, X. Chavanne, I. Bexi, F. Sagnard, V. Guilbert."></span>
 
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*[[Jean-Pierre Frangi|J.-P. Frangi]], [[Daniel Richard|D. Richard]], X. Chavanne, I. Bexi, F. Sagnard, V. Guilbert, <u>  New in situ techniques for the estimation of the dielectric properties and moisture content of soils.</u>, Elsevier, CR Geoscience 341 (2009) 831-845. doi:10.1016/j.crte.2009.08.004.
 
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**'''Nouvelles techniques in situ pour estimer les propriétés diélectriques et la teneur en eau des sols. Deux techniques d’hyperfréquences originales de caractérisation diélectrique in situ dans deux bandes larges de fréquence ont été développées, afin d’estimer la teneur en eau de sols par des mesures d’impédance complexe. Ces techniques sont fondées sur l’effet capacitif et sur la propagation des ondes électromagnétiques en HF. Les deux instruments de mesure sont constitués de conducteurs droits qui sont enfouis dans le sol. Des algorithmes d’inversion spécifiques ont été développés en vue d’estimer la permittivité réelle apparente du sol, en fonction de la fréquence à partir de l’impédance complexe. La validation a été réalisée en laboratoire sur des sables secs et humides et sur le terrain pour l’instrument HF. Ces moyens de mesure doivent élargir le choix des techniques de mesure d’humidité dans les sols.'''<span style="color:#800080;"> - mis en ligne fév. 10</span>
 
<span id="S. Yahaya and J.-P. Frangi."></span>
<span id="S. Yahaya and J.-P. Frangi."></span>

Version du 13 février 2010 à 15:23


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